DFT 흐름??

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Guest
아무도 내게 ASIC 설계 흐름 시험은 디자인 가이드를 주시겠습니까??어떤 도구를 사용해야하는데??

감사합니다

안부

<img src="http://www.edaboard.com/images/smiles/icon_razz.gif" alt="Razz" border="0" />
 
내가 본 무엇이 있고 경험
Syn 삽입 명령을 스캔 * psys 직류의 buit이지만, 좀 더 생겼습 pls DFT, 방법론과 뭐든
말할 .........

 
DFT 디자인을위한
- 들어 - 테스트 스탠드!

그럼, 무엇보다도 중요합니다 :
디자인 일을하는 동안 "배려로 테스트를 받아!"

$ yn0psys 'DFT C0mpiler, Ment0r의 DFTAdvisor, 또는 같은 EDA 툴로,
$ yntest의 가상 Sc (에서) N으로, 내용은 "구조적 - DFT"솔루션을 제공할 수있습니다 ---
스캔 - 쇠사슬 디자인.

추신 :
스캔 체인 삽입의 목적이다
ATPG 작업을 더 용이하게합니다.
(이후 순차 ATPG 쉬운 일이 아니다
시험 범위는 매우 낮은 수있습니다.)

 
계획을 실행하기
전에 *** ***
--------------------------------
디자인 : 디자인 계획
검증 : 검증 계획
테스트 : 테스트 계획
--------------------------------
디자인 계획 : 함수, 타이밍, 전력 및 등등.
Verifiation 계획 : 검증 방법론, 코드 커버 리지, 기능적 커버 리지,
사용 ...
테스트 계획 : 테스트 전략을 사용하는 테스트 모드 정의, 테스트 범위, 책임 보험
--------------------------------
시험 전략 :
* 메모리 :
- BIST : BIST 알고리즘, 3 월, 같은 ...
- 기타 :
* 아날로그 블록 :
- PLL은 :
- ADC가 :
- DAC는 :
* 디지털 블록 :
- 기능성 테스트 : (-> 실행 잘못 시뮬레이션이나되지 않음)
- ATPG
스캔
# 전체 검색
# 스캔 부분
* 전체 칩 :
- 경계 스캔
-
--------------------------------

다음 또한 참조 :
디자인 사이클을 통해 "테스트 비용 절감"
www.eedesign.c0m/story/OEG20030616S0108
joe2moon하여 2003년 6월 17일 6:25에 편집한 마지막;에서 편집한 1 시간 총

 
일부는 EDA 툴 :
www.mentor.c0m/dft/products.html
- BSDArchitect - 경계 스캔
- DFTAdvisor - 테스트 합성
- FastScan - ATPG
- LBISTArchitect - 로직 BIST
- MBISTArchitect - 메모리 BIST
- TestKompress - 테스트 압축

www.syntest.c0m/
- DFT - 프로 플러스 - 포괄적 DFT 도구의
- VirtualScan - 가상 스캔 합성 및 ATPG
- TurboBIST - 셀프 - 내장 - 테스트
- TurboBSD - 경계 스캔
- TurboCheck - 테스트 분석
- TurboFault - 결함 시뮬레이션

www.logicvision.c0m/products/index.html
- 칩 테스트 조립 - 경계 스캔
- 로직 BIST - 테스트의 IP 임베디드
- IC에서 메모리 BIST - 임베디드 메모리 테스트
- PLL을 BIST - 임베디드 테스트의 PLL

www.synopsys.c0m/products/test/test.htm
- BSD와 컴파일러 - 경계 스캔
- DFT 컴파일러 - 테스트 합성
- TetraMAXŽ ATPG - ATPG
joe2moon하여 2003년 6월 18일 17:22에 편집한 마지막; 편집한 2 회 총

 
이 제는 Synopsys DFT 흐름이다

1.HDL을 설계 테스트 고려
==> 당신은 RTL TESTDRC 수표는 Synopsys DFT 컴파일러와 함께 확인하실 수있습니다
==> 메모리 : 메모리 BIST 로직을 삽입

2.합성을 고려 스캔 : 직류 컴파일러
==> 컴파일 - 스캔 (검사) pre_compiled
==>이 명령 F하게 / F ==>
F 스캔 / F
==> check_test 또는 check_dft : DFT 규칙 위반 확인

3.SCAN 삽입 & 체인 만들어 : Synopsys의 DFT 컴파일러
==> insert_scan 또는 삽입 DFT
==>이 명령의 사슬을 스캔하게
물론, 우리 체인 스캔해야 cofigure

4.Synopsys는 BSD와 컴파일러와 BSD와 (가능한 JTAG) 삽입
==> insert_bsd
==> 당신을 합성하기 전에 가능한 JTAG를 삽입할 수있습니다.
==> BSD와 컴파일러와 함께 확인 BSD와 벡터

5.Synopsys는 ATPG TetraMAX
함께
==> TetraMAX와 벡터 ATPG하게
==> 잘못 정확한 감시
==> 만약 당신이, 당신은 할 수 fault_simulation 싶어요.

6.Simulaiton (ATPG, MBIST, 가능한 JTAG)

==> (ncsim 또는 vcs 또는 다른) 시뮬레이터를 가진 모든 벡터 시뮬레이션

 
>>> 당신 DFT 컴파일러와 함께 Syn0psys 확인은 RTL TESTDRC를 확인하실 수있습니다

내 경험에서,은
RTL 콩고의 결과가 그렇게 좋지 않다. 예.
(은 RTL) 콩고와 콩고 사이의 상관 관계와 함께
게이트 - 레벨 Netlist 너무 가까이하지 않습니다.
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참고로 그냥 :

2001 년도 데이터 ATPG 시장
멘토 Fastscan (61 %)
Synopsys는 TetraMAX (31 %)
기타 (8 %)

2001 년도 시장 스캔 데이터 삽입
Synopsys의 DFT 컴파일러 (91 %)
멘토 DFT 전문가 (7 %)
기타 (2 %)

h ** p 하이라이트 : / / www.deepchip.c0m/items/snug03-12.html

 
대한 체인 삽입 스캔 :
그것은 사슬을 스캔 꿰매 beeter의 (들) 물리적 C0mpiler의 환경하에.
이후 체인 동안 물리적인 위치를 고려할 수있습니다.
그래서이 domaim에, DFT C0mpiler 승.
[체육 C0mpiler에서 DFT C0mpiler 호출]
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ATPG 들면 :
패턴 생성
및 패턴을 압축
그것은 Ment0r a beeter 직업 않는 것 같다.
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