레이아웃"핫

[des3glo]

안녕하세요, 저는 0.18tsmc 프로세스를 테스트시 정말 내가 devcies 최대 드레인 바이어스 응력 수 있는지 알아야합니다.

좀 뜨거운 캐리어 스트레스 테스트를 수행 노력하고 있어요.코어 전압은 1.8V 나되는 최대 전압 2.2 주위에있을 거라고는 생각과 함께.누구 날 도와줄 수 또는 다른 사람과 같은 프로세스에 대한 뜨거운 캐리어 스트레스 테스트를 수행하고있다 어떠한 정보도있다.

도움이 많이 될 apprieciated

감사합니다 Gethin

 

[EVI]

TSMC는 문서 "라는 0.18um 논리 1.8V/3.3V ACHC 모델은"HCI 저하를위한 모델을 가지고있다.절차입니다 - TSMC는 원본 문서를 요청 측정하거나 기판 누설 질문을 아래에 장치가 현재의 시뮬레이션, 그리고 그 저하의 범위를 계산 문서에서 마법의 공식이 적용됩니다.

 

[EVI]

사실은 같은 문제가 지금하고 있어요, 난 그냥 Spectre HCI 저하를 분석하고있다가 발견 ( "") 비르투 오조 Spectre 회로 시뮬레이터 사용자 안내서를 참조하십시오.제가 오늘은 해봐야 겠어.

 

[Guest]

[No message]

 

[des3glo]

이러한 responces EVI 주셔서 감사합니다.난 그냥 TSMC는 이메일에 의해 docuument를 적용해야 할 것 같아요?

당신은 0.18 장치에서 작동하니?난 24 시간 동안 정상적인 작동 상태를 테스트 할 계획을 어떻게 볼 수 있으면 저하가 거기에있습니다.그럼 최대 ISub에서 짧은 기간 동안, 10000 초 이상의 게이트 드레인 1.0에 대한 스트레스 테스트, 즉 2.0V를 적용하고 measurewments 1,000 가져가라.

당신 GIDL에서 동시에 찾고 계십니까???또한 -0.5에서 1 게이트 볼 시험 오전 뜨거운 경우 이동 통신사에서 스트레스 후 현재의 변화!올린날짜 9 분 후 :내가 TSMC는 웹사이트 질수 있지만 문서에 대해 물어보고 연락처를 찾아왔다.당신이나 연락 가능한 이메일을 당신이 나에게 그 문서를 이메일로 보낼 수있는 기회.

 

[EVI]

좋아, 계속 연락하자.임 TSMC와 함께 일하고 0.18 1P6M 혼합 신호 처리합니다.여기가 내가 지금이다 :

- 내가 시간을 절약하기 위해 어떤 실험실 테스트를 피하려고 노력 해요.실험실 측정하면 좀 그렇지만, 당신은 직류 스트레스 조건 하에서 열화를 추정받을 수있습니다.그러나, 진정한 HCI 저하가 발생하는 경우에만 귀하의 회로를 AC 미만 (스위칭 트랜지스터 또는 아날로그 블록 등), 평생 수있는 작품을 할 때 더 이상 선형 영역에서 장치가 작동.수명 예측의 AC를 얻으려면 실제 회로와 시뮬레이션을 실행해야합니다.

- 논문 HCI 저하 기판 누설 NMOS 및 PMOS 게이트 누설 전류에 대한 전류의 함수를 말한다.현재 TSMC의 모델과 정기적인 유령 시뮬레이션 기판 누설에 대한 매우 부정 확한 예측을주고 않는 모든 게이트의 누설하는 거죠.

- 그 Spectre HCI 저하를 분석에만 BSIM 레벨 2, 그렇게 쓸모가의 작품을 발견

- 진짜 해결책은 도구 RelXpert 케이던스가 제공하는 전화 - 그 누설 전류 시뮬레이션 모델에 대한 추가 매개 변수를 필요로 저하 시뮬레이터 등 그 모델의 매개 변수 중 하나를 실험실에서 (케이던스 BsimProPlus 모델 추출 도구 usinng)에 의해 추출할 수있습니다 고령화입니다 , 또는 다른 곳에서 인수했다.지금 만약 내가 TSMC와 케이던스에서 또는 그 RelXpert 모델을 얻을 수 있는지 찾으려고 해요.

나중에 약간의 정보를 이메일로 알려드립니다.

 

[des3glo]

나는 순간 직류 스트레스 테스트를하고있는 중이야.만약 어떤 IDS는 저하됩니다 첫째는 24 시간 동안 볼 수 VG 0.9 / 1.8 VD 테스트 정상 작동 할 것입니다.그런 후 hc 테스트에 그 이동합니다.전 미주리에서 정확히 어떤 편견이 하수구에 사용하도록 확신입니다.편견 맥스 (약 1.3v 이하에서) 게이트로가는 그들은 항복 voltgae의 90 %에서 드레인 바이어스를 사용하는 것이 좋습니다 키슬리 오피스에서.내가 MOSIS 파일에서이 약 3.0 - 3.2v라고 생각합니다.이 테스트 근무 조건에 1.3Vg / 2.9Vd 될 것입니다.

그럼 10000sec 기간 동안 1,000 초 측정이 걸릴 거예요.

또한 GIDL 이러한 테스트에서 찾고 - 당신이 원하는 일을 있나요???

AC 테스트를 누른 다음에 관해서는 정말 내가 생각하지 못할.그래도 난 펄스 직류 스트레스 테스트를하고있는 중이야.

 

[EVI]

오, 이제 당신이 뭘 알고있습니다.게이트 쇠약 증세는 겨우 약 5V의에서 발생할 것입니다 및 S / D 조 확산을 분해 -보다 높은 전압에서.그래서 범위 내에서 최대 3 드레인 바이어스가 4V 증가 - 뜨거운 사업자에 의해에만 손상을 받게됩니다.당신이 저하되는 것을 알 때까지 그냥 드레인 바이어스 계속 제기.내가 GIDL에서, 내가 상관할 바가 아니라면 뒤돌아보지.

 

[des3glo]

안녕하세요, 그냥 몇 가지 테스트 완료.Firslty 2.8에서 1.3 및 드레인에서 게이트를 편파적이고 IDsat 약 0.4 % deg했다.그래서 3.0로,하지만 여전히 크게 저하 하수구 제시했습니다.내가 하수구로 최대 3.2과 3.5 사이에 갈건데 그래서 다음 테스트합니다.당신은 어떻게되는지 알려 드릴 것입니다

 

[EVI]

그래, 난 퍼즐을 해결했습니다 :
- 케이던스에서 RelXpert 타
- TSMC의에서 모델 "CL018 ACHC model.zip"- 그들은 모두 매개 변수와 함께 저하 RelXpert의 실제 모델이 필요합니다라고 요청.나는 그들이 필요하지만 불행히도 당신이 엄수되고 아래의 TSMC와 함께 그들을 보낼 수없습니다.당신이 비록 그들이 자신을 얻을 수 있어야합니다.