(디지털)"테스트

[qjlsy]

Synopsys의 문서 고 말했다

가장자리에 민감한 단계 혼합 설계 (posedge 변화에 민감한 스타일 검사 및 등록을 공동 negedge 기존),

"긍정적인 펄스의 상승 에지 - 트리거 filp - 최저점에 대한 첫 번째 클럭해야합니다; 상승 에지 - 트리거 플립 부정적인 펄스 - 최저점에 대한 첫 번째 클럭해야합니다."

왜 이런 규칙이 충족되어야하는가?그리고이게 무슨 규칙을 보장하는 일을해야하는가?

고마워요!

 

[dr_dft]

만약 내가 정확하게 귀하의 질문을 이해하면 posedge 믹싱의 요구 사항을 설명하고 비치 샌들 negedge 스캔 체인과 같은에.ATPG 작동 방식, 그것은 입력을 스캔을 주장하는 경우, 클럭 펄스 스캔.따라서 귀하의 긍정적인 스캔 클럭 펄스 (0 - "1 -"0), 상승 에지가 발생하기 전에 가장자리에 떨어지고있습니다.이 경우에, 당신은 플립 posedge해야 슬리퍼 스캔 체인의 마지막에 있어야하고,이 같은 체인의 머리에 negedge :

스캔 기능 - "NFF1 -"NFF2 - "...- "NFFn -"PFF1 - "PFF2 -"..- "PFFm - 스캔"아웃

만약 당신이 주문 전에 negedge (posedge) 반대로, 당신은 그 경계에서 마지막 posedge 첫 번째 negedge 비치 샌들 항상 곁에와 동일한 가치를 지키기 것입니다 발견할 것이다.

이 명확하지 않다면 나에게 알려 다오.원한다면 더 이상 그것을 설명할 수있습니다.

 

[Guest]

[No message]

 

[Guest]

귀하의 질문에 좀 더 자세하게 설명할 수 있습니까?

 

[qjlsy]

- 안녕, dr_dft, 난 당신이 더 필요합니다.

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스캔 기능 - "NFF1 -"NFF2 - "...- "NFFn -"PFF1 - "PFF2 -"..- "PFFm - 스캔"아웃

만약 당신이 주문 전에 negedge (posedge) 반대로, 당신은 그 경계에서 마지막 posedge 첫 번째 negedge 비치 샌들 항상 곁에와 동일한 가치를 지키기 것입니다 발견할 것이다.
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1.안 NFFs '위치 및 PFFs'순위 마 회로의 기능에 의해 결정합니까?NFFs 및 PFFs가 아닌 단지 대체 회로에서 scanable 등록됩니다.그래서 우리가 출력 핀 입력 핀에서 경로를 수정할 수 있을까?

여부를 원래의 기능을 경로를 따르지 않는 경로를 스캔하거나하지?그렇다면 DFT 합성 그렇게 우리가 예외를 만날 수있는 사슬을 스캔해야합니까 예를 들어, 스캔 기능 - "NFF1 -"NFF2 - "...- "NFFn -"PFF1 - "PFF2 -"..- "PFFm - 스캔"아웃

2.네, 긍정적인 펄스, PFFs 먼저 누른 경우에는 다음 2 비치 샌들 사이에 다른 빗 논리 구름 마지막으로,이 순서와 동일한 가치를 얻을 것입니다 NFFs 이동합니다.

하지만 그것을 확인하실 수있습니다.그것은 내가 원하는 건 이거야.

2 레지스터와 같은 입력이 하나 pluse.시계가없는 경우가 발생할 수 왜곡 및 타이밍 괜찮아, 왜 안돼?출력도 측정할 수 및 예상 가치와 비교.

경우에는 중간에 2, 비치 샌들 빗 로직 구름 수도 다른 값으로 변화 들어있습니다

모두 모두, 내가 플립플롭 순서에 상관없이 모든 종류의 걸릴 상관하지 않는 것 같아요.테스트 목적을 위해.

좀 더 도와 줄래?고마워요!

 

[dr_dft]

qjlsy,

더 많은 수치 무승부를 설명해야합니다.내가 다시 당신에게 오기 전에 이렇게 시간을 좀 줘.

 

[dr_dft]

qjlsy 썼습니다 :1.
안 NFFs '위치 및 PFFs'순위 마 회로의 기능에 의해 결정합니까?
NFFs 및 PFFs가 아닌 단지 대체 회로에서 scanable 등록됩니다.
그래서 우리가 출력 핀 입력 핀에서 경로를 수정할 수 있을까?